BS IEC 60747-14-1-2010 半导体器件.半导体传感器.传感器用一般规范
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时间:2024-05-03 03:52:34
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Semiconductorsensors-Genericspecificationforsensors
【原文标准名称】:半导体器件.半导体传感器.传感器用一般规范
【标准号】:BSIEC60747-14-1-2010
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2010-04-30
【实施或试行日期】:2010-04-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:组件;连接;定义(术语);分立器件;电气工程;电子工程;电子设备及元件;总规范;检验;集成电路;布置;寿命;极限(数学);作标记;标记;测量;测量技术;额定值;半导体器件;半导体传感器;半导体;传感器;规范(验收);符号;试验
【英文主题词】:Components;Connections;Definitions;Discretedevices;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Genericspecification;Inspection;Integratedcircuits;Layout;Life(durability);Limits(mathematics);Marking;Marks;Measurement;Measuringtechniques;Ratings;Semiconductordevices;Semiconductorsensor;Semiconductors;Sensors;Specification(approval);Symbols;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:26P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.半导体传感器.传感器用一般规范
【标准号】:BSIEC60747-14-1-2010
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2010-04-30
【实施或试行日期】:2010-04-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:组件;连接;定义(术语);分立器件;电气工程;电子工程;电子设备及元件;总规范;检验;集成电路;布置;寿命;极限(数学);作标记;标记;测量;测量技术;额定值;半导体器件;半导体传感器;半导体;传感器;规范(验收);符号;试验
【英文主题词】:Components;Connections;Definitions;Discretedevices;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Genericspecification;Inspection;Integratedcircuits;Layout;Life(durability);Limits(mathematics);Marking;Marks;Measurement;Measuringtechniques;Ratings;Semiconductordevices;Semiconductorsensor;Semiconductors;Sensors;Specification(approval);Symbols;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:26P;A4
【正文语种】:英语
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